專精特新“小巨人”企業(yè)
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可靠性測(cè)試設(shè)備
動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫動(dòng)態(tài)柵偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫動(dòng)態(tài)反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫高濕動(dòng)態(tài)反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
集成電路實(shí)驗(yàn)設(shè)備
集成電路(通用型)
超大規(guī)模集成電路老化測(cè)試系統(tǒng)
超大規(guī)模集成電路老化測(cè)試系統(tǒng)
集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
集成電路(專用型)-正在開發(fā)中
集成電路(專用型)
集成電路(專用型)
功率循環(huán)設(shè)備
功率循環(huán)測(cè)試
IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
功率循環(huán)試驗(yàn)
功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)
晶圓級(jí)可靠性測(cè)試系統(tǒng)
晶圓級(jí)可靠性測(cè)試系統(tǒng)
晶圓級(jí)可靠性測(cè)試系統(tǒng)
IGBT功率模塊測(cè)試系統(tǒng)(無功老化)
IGBT功率模塊測(cè)試系統(tǒng)(無功老化)
IGBT功率模塊測(cè)試系統(tǒng)
電容器高溫試驗(yàn)設(shè)備
電容器老化
電容器高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
電容器高溫高濕老化測(cè)試系統(tǒng)
電容器高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
電容器高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
電容器高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
電容測(cè)試
電容器高溫高阻測(cè)試系統(tǒng)
高溫試驗(yàn)設(shè)備
高溫反偏
高溫偏置老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫柵偏
高溫柵偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫柵偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫柵偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫柵偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫高濕反偏
高溫高濕反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫高濕反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫高濕反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
高加速壽命試驗(yàn)-正在開發(fā)中
高加速壽命試驗(yàn)- 正在開發(fā)中
分立器件實(shí)驗(yàn)設(shè)備
功率器件
功率器件動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)
綜合老化(多功能)
多功能綜合老化測(cè)試系統(tǒng)
間歇壽命試驗(yàn)
間歇壽命老化測(cè)試系統(tǒng)
間歇壽命老化測(cè)試系統(tǒng)
間歇壽命老化測(cè)試系統(tǒng)
二極管老化
穩(wěn)壓二極管恒流老化測(cè)試系統(tǒng)
穩(wěn)壓二極管恒流老化測(cè)試系統(tǒng)
高溫LED大功率老化測(cè)試系統(tǒng)
光耦老化
光耦老化測(cè)試系統(tǒng)
大功率晶體管
大功率晶體管老化測(cè)試系統(tǒng)
電源模塊三端穩(wěn)壓器
電源模塊(中小功率)
電源模塊高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
電源模塊高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
電源模塊(中小功率)
電源模塊(大功率)
電源模塊(大功率)
大功率電源模塊高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
微波器件老化試驗(yàn)
微波功率器件直流老化
微波管高溫靜態(tài)工作老化測(cè)試系統(tǒng)
微波管高溫靜態(tài)工作老化測(cè)試系統(tǒng)
微波功率器件直流老化
微波組件射頻老化-正在開發(fā)中
微波組件射頻老化
微波功率器件射頻老化-正在開發(fā)中
微波功率器件射頻老化
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LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)是一種非常重要的儀器,用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片的老化性能。在半導(dǎo)體芯片長期使用過程中,可能會(huì)發(fā)生性能降低,電容降低,漏電流的增加等現(xiàn)象,從而影響芯片的可靠性和性能。為此,需要在實(shí)驗(yàn)室中通過LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)來評(píng)估芯片的老化性能。
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矩陣式監(jiān)控平臺(tái)
矩陣式監(jiān)控平臺(tái)是一種基于矩陣結(jié)構(gòu)的視頻監(jiān)控系統(tǒng),是目前安防監(jiān)控領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的監(jiān)控系統(tǒng)。矩陣式監(jiān)控平臺(tái)將多個(gè)攝像頭的視頻信號(hào)通過矩陣處理單元進(jìn)行處理,實(shí)現(xiàn)視頻信號(hào)的分配、合成、切換等操作,可以滿足大規(guī)模安全監(jiān)控場(chǎng)景的需要。
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智能老化集中監(jiān)控系統(tǒng)
智能老化集中監(jiān)控系統(tǒng)(IBCS)”是一套具備集約化管理、數(shù)字化應(yīng)用和可視化呈現(xiàn)的平臺(tái)級(jí)數(shù)據(jù)處理展示中心,能夠支持各類老化設(shè)備數(shù)據(jù)的設(shè)置、采集和分析,支持多種交互接入和設(shè)備數(shù)據(jù)共享,支持多機(jī)集群管理和遠(yuǎn)程操作。
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