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產(chǎn)品中心
可靠性測試設(shè)備
集成電路實(shí)驗(yàn)設(shè)備
集成電路（通用型）
超大規(guī)模集成電路老化測試系統(tǒng)
(LSIC9000)
點(diǎn)擊咨詢產(chǎn)品超大規(guī)模集成電路老化測試系統(tǒng)(LSIC9000)
該系統(tǒng)可對芯片進(jìn)行室溫+10°C~+150°C的HTOL測試，老化過程中實(shí)時(shí)檢測被測器件的輸出信號(hào)，過程中自動(dòng)對比向量。
功能
- 每塊老化板提供10路可編程電源(0.5~10V/25A) 電源規(guī)格可單獨(dú)定制
- 每塊老化板可提供，256路I/O雙向通道
- 每個(gè)試驗(yàn)箱可支持最大38KW的熱耗散
- 支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接導(dǎo)入使用
- 支持芯片BIST測試
- 最大支持24個(gè)工位獨(dú)立溫控
- 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考慮設(shè)定
產(chǎn)品特性
試驗(yàn)溫區(qū) | 1個(gè) |
試驗(yàn)溫度 | 室溫+10°C~+150°C |
老化試驗(yàn)區(qū) | 32區(qū) |
數(shù)字信號(hào)頻率 | 10MHz |
向量深度 | 16Mbit |
信號(hào)通道數(shù) | 256路獨(dú)立可編程雙向I/O |
時(shí)鐘組數(shù) | 8組 |
信號(hào)周期 | 80-20480nS |
時(shí)序邊沿 | 雙沿 |
PIN 格式 | 8種 |
信號(hào)輸入輸出電壓 | 0.5-5V |
I/0驅(qū)動(dòng)電流 | DC>100mA、瞬時(shí)電流>200mA |
DPS電源 | 0.5-6.0V/25A(可選配10V/10A,6V/50A) |
DPS電源數(shù) | 10個(gè)(可根據(jù)客戶需求配置) |
DPS輸出保護(hù) | OVP (過壓)、UVP (欠壓)、OCP (過流) |
整機(jī)供電 | 三相AC380V+38V |
最大功率 | 100KW(典型) |
整機(jī)重量 | 2200Kg(典型) |
整機(jī)尺寸 | 2800mm(W)x 1480mm(D) x2310mm(H) |
適用標(biāo)準(zhǔn)
MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101
適用器件
適用于通用超大規(guī)模集成電路、SoC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大規(guī)模集成電路