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產(chǎn)品中心
可靠性測(cè)試設(shè)備
集成電路實(shí)驗(yàn)設(shè)備
集成電路(通用型)
超大規(guī)模集成電路老化測(cè)試系統(tǒng)
(LSIC7000)
超大規(guī)模集成電路老化測(cè)試系統(tǒng)(LSIC7000)
該系統(tǒng)采用TDBI技術(shù),可進(jìn)行室溫+10℃~150℃ HTOL老化測(cè)試,老化過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)器件的輸出信號(hào),過(guò)程中自動(dòng)對(duì)比向量。
功能
- 實(shí)時(shí)檢測(cè)被測(cè)器件的信號(hào)及電流狀態(tài),自動(dòng)對(duì)比過(guò)程向量
- 選用硬公制高速連接器,大幅提高測(cè)試信號(hào)完整性
- 可根據(jù)不同器件封裝、功率等要求,定制專用老化測(cè)試板
- 采用專用大電流連接器,具有高可靠性、穩(wěn)定性,MTBF大于20000小時(shí)
產(chǎn)品特性
試驗(yàn)溫區(qū) | 2 個(gè) |
試驗(yàn)溫度 | 室溫+10~150℃ |
老化試驗(yàn)區(qū) | 16/32區(qū) |
數(shù)字信號(hào)頻率 | 12.5MHz |
向量深度 | 16Mbit |
信號(hào)通道數(shù) | 184路(其中32路雙向IO) |
時(shí)鐘組數(shù) | 8 組 |
信號(hào)周期 | 80~20480nS |
時(shí)序邊沿 | 雙沿 |
PIN格式 | 8 種 |
信號(hào)輸入輸出電壓 | 0.5~5V |
10驅(qū)動(dòng)電流 | DC≥50mA、瞬時(shí)電流≥80mA |
DPS電源 | 0.5~6.0V/25A(可選配10V/10A) |
DPS電源數(shù) | 2~8個(gè)(可根據(jù)客戶需求配置) |
DPS輸出保護(hù) | OVP (過(guò)壓)、UVP(欠壓)、OCP(過(guò)流) |
整機(jī)供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 35KW(典型) |
整機(jī)重量 | 1600KG(典型) |
整機(jī)尺寸 | 3200mm(W)×1674mm(D)×2366.2mm(H) |
適用標(biāo)準(zhǔn)
GJB548B MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101 JESD22A-108
適用器件
適用于通用集成電路存儲(chǔ)器、FPGA、ARM、DSP等超大規(guī)模集成電路