點擊咨詢產(chǎn)品間歇壽命老化測試系統(tǒng)(IOL3000)
該系統(tǒng)適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、T-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環(huán)試驗和恒流功率試驗。系統(tǒng)每個區(qū)位風道獨立，充分避免不同區(qū)位試驗進程不同對試驗結(jié)果造成影響;在實驗過程中，監(jiān)測器件的電壓、結(jié)溫特性，并且提供結(jié)溫特性曲線以備后期數(shù)據(jù)分析。
功能
- 風冷功率循環(huán)試驗
- 每個區(qū)位獨立風道
- 大風力散熱風機
- 最大60A電流試驗能力
- 支持全開通加熱模式
- 充分的實驗員人體安全考慮設定
產(chǎn)品特性
試驗模式 | 風冷 |
試驗風道 | 16個 |
老化試驗區(qū) | 16區(qū) |
單區(qū)工位數(shù) | 16-80(典型) |
最大負載 | 300m(被測器件橫流模式) 60A(飽和導通模式) |
最大電壓 | 45V |
最大測試溫度 | 200°C |
電壓檢測精度 | ± (1+2LSB) |
柵極控制電壓 | ±15V |
結(jié)溫測試電流(Isense) | Isense 10~100mA |
接地電阻 | ≤1Ω |
整機供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 50KW(典型) |
整機重量 | 700KG(典型) |
整機尺寸 | 1800mm(W)x1400mm(D)x1950mm(H) |
適用標準
MIL-STD-750D AEC-Q101
適用器件
適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、SIC、GAN、可控硅等