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產(chǎn)品中心
可靠性測(cè)試設(shè)備
高溫試驗(yàn)設(shè)備
高溫反偏
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)
(HTRB2003)
高溫反偏老化測(cè)試系統(tǒng)(HTRB2003)
該系統(tǒng)可進(jìn)行室溫+10℃~200℃ 的高溫反偏老化測(cè)試,老化過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)器件的漏電流狀態(tài)、被測(cè)器件的電壓狀態(tài),并根據(jù)需要記錄老化試驗(yàn)數(shù)據(jù),導(dǎo)出試驗(yàn)報(bào)表。
功能
- nA級(jí)別的漏電流檢測(cè)精度
- 整機(jī)30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
- 獨(dú)特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進(jìn)程
- 可定制工位老化電壓獨(dú)立控制功能,實(shí)現(xiàn)單工位老化超限剔除
- 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考慮設(shè)定
產(chǎn)品特性
試驗(yàn)溫區(qū) | 1個(gè) |
試驗(yàn)溫度 | 室溫+10~200℃ |
老化試驗(yàn)區(qū) | 16區(qū)(16/32/40/48區(qū)可選) |
單區(qū)工位數(shù) | 80(典型) |
老化電壓范圍 | 0~±2000V |
電壓檢測(cè)精度 | ±(1%+2LSB) |
電流檢測(cè)范圍 | 10nA~50mA |
電流檢測(cè)精度 | ±(1%+10nA) |
整機(jī)供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 8KW(典型) |
整機(jī)重量 | 680KG(典型) |
整機(jī)尺寸 | 1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H) |
適用標(biāo)準(zhǔn)
GJB128 MIL-STD-750D AQG324
適用器件
適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等