點擊咨詢產品功率循環(huán)試驗系統(tǒng)(IOL6000)
該系統(tǒng)可針對各種功率器件進行功率循環(huán)老化試驗，模擬器件在不同功率工況下的退化情 況，通過加熱與冷卻過程的控制，對封裝、溝道或者內部鍵合絲進行熱疲勞試驗。
功能
- 可根據(jù)不同封裝、功率等要求，定制專用老化測試板
- 高功率耗散，小體積，大容量
- 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性
試驗模式 | 風冷 |
試驗風道 | 統(tǒng)一風道 |
老化試驗區(qū) | 16區(qū) |
單區(qū)工位數(shù) | 56(典型) |
最大負載 | 180mA |
最大電壓 | 48V |
最大測試 | 200℃ |
柵極控制電壓 | ±15V |
測試電流 | 10mA |
接地電阻 | ≤1Ω |
整機供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 50KW(典型) |
整機重量 | 700KG(典型) |
整機尺寸 | 1490mm(W)x1000mm(D)x2000mm(H) |
適用標準
GJB128A MIL-STD-750 AEC-Q101 JESD51-1
適用器件
適用于二極管、MOSFET、IGBT、CMOS等功率器件