高溫柵偏老化測試系統(tǒng)(HTGB2000)
該系統(tǒng)可進(jìn)行室溫+ 10°C-200C的高溫柵偏老化測試,老化過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測被測器件的漏電流狀態(tài)、被測器件的電壓狀態(tài),并根據(jù)需要,記錄老化試驗(yàn)數(shù)據(jù),導(dǎo)出試驗(yàn)報(bào)表。
功能
- nA級(jí)別的漏電流檢測精度
- 整機(jī)30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
- 可定制工位老化電壓獨(dú)立控制功能,實(shí)現(xiàn)單工位老化超限剔除
- 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考電設(shè)定
產(chǎn)品特性
試驗(yàn)溫區(qū) | 1個(gè) |
試驗(yàn)溫度 | 室溫+10~200℃ |
老化試驗(yàn)區(qū) | 16區(qū)(16/32/40/48區(qū) 可選) |
單區(qū)工位數(shù) | 80(典型) |
老化電壓范圍 | 0~±100V |
電壓檢測精度 | ±(1%+2LSB) |
電流檢測范圍 | 1nA~1mA |
電流檢測精度 | ±(1%+10nA) |
整機(jī)供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 8KW(典型) |
整機(jī)重量 | 680KG(典型) |
整機(jī)尺寸 | 1450mm(W) x1450mm (D) x2000mm (H) |
適用標(biāo)準(zhǔn)
JESD22-A101 AQG324 GJB128MIL-STD-750D
適用器件
適用于MOS、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等