產(chǎn)品導(dǎo)航
當(dāng)前位置: 首頁 產(chǎn)品中心 可靠性測試設(shè)備 高溫試驗(yàn)設(shè)備 高溫柵偏 高溫柵偏老化測試系統(tǒng) (HTGB2000)

高溫柵偏老化測試系統(tǒng)(HTGB2000)

該系統(tǒng)可進(jìn)行室溫+ 10°C-200C的高溫柵偏老化測試,老化過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測被測器件的漏電流狀態(tài)、被測器件的電壓狀態(tài),并根據(jù)需要,記錄老化試驗(yàn)數(shù)據(jù),導(dǎo)出試驗(yàn)報(bào)表。

功能


  • nA級(jí)別的漏電流檢測精度
  • 整機(jī)30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
  • 可定制工位老化電壓獨(dú)立控制功能,實(shí)現(xiàn)單工位老化超限剔除
  • 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考電設(shè)定


產(chǎn)品特性

試驗(yàn)溫區(qū)

1個(gè)

試驗(yàn)溫度

室溫+10~200℃

老化試驗(yàn)區(qū)

16區(qū)(16/32/40/48區(qū) 可選)

單區(qū)工位數(shù)

80(典型)

老化電壓范圍

0~±100V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

1nA~1mA

電流檢測精度

±(1%+10nA)

整機(jī)供電

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整機(jī)重量

680KG(典型)

整機(jī)尺寸

1450mm(W) x1450mm (D) x2000mm (H)

適用標(biāo)準(zhǔn)

JESD22-A101 AQG324 GJB128MIL-STD-750D

適用器件

適用于MOS、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等