產(chǎn)品導(dǎo)航
當(dāng)前位置: 首頁 產(chǎn)品中心 可靠性測試設(shè)備 高溫試驗設(shè)備 高溫反偏 高溫反偏老化測試系統(tǒng) (HTRB2000)

高溫反偏老化測試系統(tǒng)(HTRB2000)

該系統(tǒng)可進(jìn)行室溫+10℃~200℃ 的高溫反偏老化測試,老化過程中實時監(jiān)測被測器件的漏電流狀態(tài)、被測器件的電壓狀態(tài),并根據(jù)需要記錄老化試驗數(shù)據(jù),導(dǎo)出試驗報表。

功能
  • nA級別的漏電流檢測精度
  • 整機30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
  • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進(jìn)程
  • 可定制工位老化電壓獨立控制功能,實現(xiàn)單工位老化超限剔除
  • 充分的實驗員人體安全考慮設(shè)定
產(chǎn)品特性

試驗溫區(qū)

1個

試驗溫度

室溫+10~200℃

老化試驗區(qū)

16區(qū)(16/32/40/48區(qū)可選)

單區(qū)工位數(shù)

80(典型)

老化電壓范圍

0~±2000V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

10nA~50mA

電流檢測精度

±(1%+10nA)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整機重量

680KG(典型)

整機尺寸

1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

適用標(biāo)準(zhǔn)

GJB128 MIL-STD-750D AQG324

適用器件

適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等