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光耦老化測試系統(tǒng)(GPIC2004)

該系統(tǒng)可對各種單光耦、雙光耦、四光耦器件進行高溫恒流和恒功率老化，適應輸入端種類：各種雙向輸入型、單向輸入型器件；適應輸出端種類：三極管、達林頓管、可控硅、數(shù)字電路等。系統(tǒng)可適用于研究所、微電路器件生產(chǎn)廠等進行各種器件的壽命篩選試驗和二級篩選試驗，適用于小批量多品種的試驗要求。

功能

驅(qū)動板功能模塊化，由各個模塊實現(xiàn)不同功能，后續(xù)更換維修方便
可對不同通道數(shù)，種類光耦進行測試，通用性強
有1024個恒流環(huán)，可對每一路單獨校準，實現(xiàn)高精度測試
可兼容各種不同型號老化板，實現(xiàn)對不同器件的老化

產(chǎn)品特性

試驗溫區(qū)	1個
試驗溫度	室溫+10~200℃
老化試驗區(qū)	16區(qū)
負載恒流控制范圍	1~80mA
程控精度	±(1.0%xRD+2LSB)
電壓檢測范圍	0.1V~120.0V、誤差±(1.0%xRD+2LSB)
老化通道數(shù)	16x64=1024
漏電流檢測范圍	1~100mA
漏電流檢測精度	±(1.0%xRD+2LSB)
老化模式	具有恒流恒功率兩種工作模式
恒功率檢測誤差	±(3.0%xRD+3mW)
電源	0~60V/40A(8路可選配)
整機供電	三相AC380V±38V
最大功率	8KW(典型)
整機重量	650KG(典型)
整機尺寸	1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB128 GJB33 MIL-STD-75

適用器件

適應于各種單光耦、雙光耦、四光耦器件；各種雙向輸入型、單向輸入型器件；三極管、達林頓管、可控硅、數(shù)字電路等